Réduisez le coût des tests de production sans fil avec Wireless Test System
27/08/2015
Cette nouvelle solution permet le test de production de points d'accès WLAN, de téléphones cellulaires, de systèmes d'info-divertissement et d'autres appareils multistandards incluant la connectivité cellulaire sans fil et des standards de navigation
Wireless Test System intègre les dernières avancées du matériel PXI et constitue une plate-forme unique pour le test multistandard, parallèle et multiport. Utilisé avec un logiciel de séquençage de test comme le module TestStand Wireless Test, il permet d'améliorer de manière significative l'utilisation des instruments lorsque plusieurs unités sont testées en parallèle. Cette nouvelle solution permet en dépit de la complexité croissante des tests sans fil, d'améliorer la vitesse des mesures et de réaliser des tests parallèles qui améliorent le rendement du secteur de la production.
Le WTS s'intègre facilement dans une chaîne de production, avec des séquences de test prêtes à l'emploi pour les appareils intégrant des circuits de fabricants comme Qualcomm ou Broadcom, ainsi que des unités sous test intégrées ou du contrôle automatique à distance. Ces fonctionnalités augmentent considérablement les performances des équipements de test RF, et permettent de réduire davantage le coût des tests.
Wireless Test System est le tout dernier système NI reposant sur le matériel PXI et sur les logiciels LabVIEW et TestStand (voir le Semiconductor Test System, sorti en 2014). Il supporte les normes sans fil LTE Advanced, 802.11ac ou encore BLE (Bluetooth Low Energy). La technologie du VST (Transcepteur de signaux vectoriels), conçu par logiciel et intégré au WTS, fournit des performances RF de pointe dans le domaine du test de production, et constitue une plate-forme capable de s'adapter à l'évolution des spécifications de test RF.
