National Instruments annonce la solution de test LAN sans fil la plus rapide de l’industrie
14/05/2009
Cette solution de test WLAN est capable de générer et d’analyser des signaux de mesure RF quatre fois plus rapidement que toute autre solution d'instrumentation modulaire et jusqu'à 10 fois plus rapidement que les instruments traditionnels.
Cette solution de test combine la nouvelle Suite NI WLAN Measurement pour les environnements de développement NI LabVIEW et LabWindows/CVI avec le matériel RF PXI Express 6,6 GHz de NI pour garantir une vitesse et une souplesse accrues en matière de test des normes IEEE 802.11 a/b/g. Dans la mesure où la solution est définie de façon logicielle, les ingénieurs peuvent facilement configurer le même matériel de mesure pour tester plus de six autres standards de communication RF dont les protocoles GPS, WiMAX, Bluetooth et RFID.
La Suite WLAN Measurement offre la cadence et la souplesse de mesure les plus élevées de l'industrie en s’appuyant sur une architecture définie de façon logicielle. Avec l’instrumentation définie de façon logicielle, qui combine matériel modulaire et logiciel défini par l’utilisateur, les ingénieurs peuvent profiter des toutes dernières avancées technologiques en termes de microprocesseurs comme le traitement multicœur et les techniques de programmation parallèle, pour atteindre des cadences de mesure inégalés dans l'industrie avec les instruments RF PXI Express 6,6 GHz. En outre, avec les capacités de programmation parallèle de LabVIEW, les temps de mesure RF par instrumentation PXI vont continuer de diminuer à chaque évolution des microprocesseurs multicœurs, optimisant ainsi les performances, augmentant la pérennité du système et diminuant l’investissement. Étant donné que l'instrumentation est définie de façon logicielle, les ingénieurs peuvent facilement personnaliser les mesures RF pour des produits multistandards, comme des systèmes sur circuit intégré (SOC), des téléphones mobiles et des radios, sans changer d’instrumentation.
La nouvelle solution de test WLAN se compose de l’analyseur de signaux vectoriels RF NI PXIe-5663 6,6 GHz, du générateur de signaux vectoriels NI PXIe-5673 6,6 GHz, du châssis à large bande passante 18 emplacements NI PXIe-1075 et du contrôleur double cœur NI PXIe-8106. Le NI PXIe-5663 peut effectuer une analyse des signaux de 10 MHz à 6,6 GHz avec une largeur de bande instantanée pouvant atteindre 50 MHz tandis que le NI PXIe-5673 permet une génération de signaux entre 85 MHz et 6,6 GHz avec une bande passante instantanée pouvant atteindre 100 MHz. Le châssis NI PXIe-1075 offre jusqu’à 1 Go/s de bande passante par emplacement et jusqu’à 4 Go/s de bande passante système totale. Ce système de mesure haut de gamme produit des mesures EVM (d'amplitude vectorielle d’erreur) résiduelles aussi basses que -44 dB. En conséquence, les ingénieurs peuvent utiliser le même système de mesure de la recherche et conception, pour lesquelles la précision des mesures est essentielle, jusqu’au test en production, où la vitesse des mesures est tout aussi primordiale.
