National Instruments étend les capacités du PXI au test des semiconducteurs
01/02/2010
National Instruments annonce dix nouveaux instruments modulaires qui étendent les capacités du PXI pour le test des semi-conducteurs à signaux mixtes
Cette suite de nouveaux produits définis par logiciel, optimisés pour fonctionner avec le logiciel de conception graphique de systèmes NI LabVIEW, inclut quatre instruments HSDIO (E/S numériques haute vitesse), deux matrices de commutation numériques, deux instruments RF avancés, une unité de source et mesure (SMU) haute précision et un logiciel d'importation de fichiers vectoriels numériques spécialisé. Elle inaugure un grand nombre de nouvelles fonctionnalités comme des E/S numériques à 200 MHz, une résolution de courant de 10 pA, des mesures RF multibandes rapides, la commutation numérique/DC, ainsi que des capacités d’importation de fichiers WGL (Waveform Generation Language) et IEEE 1450 STIL (Standard Test Interface Language).
Cette suite, appelée PXI Semiconductor Suite, poursuit l'amélioration des capacités PXI pour tester les composants courants à base de semi-conducteurs, comme les C A/N, C N/A, les Circuits Intégrés (CI) de gestion d'alimentation , les CI sans fil et les MEMS (systèmes microélectromécaniques). Vu l’étendue de ses fonctionnalités avancées, la suite offre des cadences plus élevées, une plus grande souplesse et un temps de développement plus rapide comparés aux équipements de test automatique (ATE) et aux solutions traditionnelles à base d’instruments autonomes, souvent utilisés pour les tests en caractérisation, validation et production de ces semi-conducteurs.
La famille NI PXIe-654x des instruments HSDIO inclut quatre nouveaux modules qui offrent des vitesses d’horloge en mode commun jusqu’à 200 MHz et des vitesses de données jusqu’à 400 Mbps, permettant ainsi aux ingénieurs de tester les conceptions des circuits intégrés haute vitesse et de supporter des protocoles de communication personnalisés plus rapides. Les modules numériques avancés de cette famille incluent plusieurs fonctionnalités supplémentaires comme la communication bidirectionnelle, la comparaison de bits en temps réel, la capacité de vitesses de données doubles, plusieurs retards de synchronisation pour différentes lignes d'E/S et la capacité de choisir entre 22 différents niveaux de tension, compris entre 1,2 et 3,3 V, pour une souplesse accrue des tests d’E/S numériques. Ces nouveaux matériels d’E/S numériques étendent les offres numériques haute vitesse des séries NI 654x, PXI-655x et PXI-656x à un total de dix instruments PXI aux capacités de tension LVDS et en mode commun jusqu’à 200 MHz.
Le nouveau SMU haute précision NI PXI-4132 offre une sensibilité inférieure à 10 pA pour des mesures de courant haute résolution. Il assure des mesures (à quatre fils) et un point de garde externe sur une seule et unique sortie pour garantir jusqu’à ±100 V dans un seul et unique emplacement PXI. Ce SMU offre aussi plusieurs autres avancées comme un moteur de séquencement matériel embarqué pour les tracés de courbes haute vitesse et synchronisés de façon matérielle ainsi que la capacité à déclencher et à synchroniser plusieurs SMU PXI-4132 sur le fond de panier du PXI. Le PXI-4132 sert de complément au SMU de puissance existant NI PXI-4130, qui offre une sortie 40 W à quatre quadrants (±20 V, ±2 A) pour offrir des options de source et mesure haute précision et haute puissance pour le PXI.
Les nouvelles matrices de commutation numérique NI PXI-2515 et PXIe-2515 améliorent encore davantage la suite des produits PXI en aidant les ingénieurs à multiplexer l'instrumentation DC de précision directement sur les lignes HSDIO connectés au circuit intégré sous test. Ces nouvelles matrices de commutation offrent aussi une connectivité de signaux améliorée pour des mesures paramétriques tout en conservant l'intégralité des signaux sur des bords numériques haute vitesse.
Les nouveaux instruments RF 6,6 GHz (au format PXI Express) NI PXIe-5663 et NI PXIe-5673, respectivement analyseur de signaux vectoriels et générateur de signaux vectoriels, offrent une vitesse de mesure accrue grâce à des changements rapides et déterministes dans les configurations RF en utilisant une nouvelle fonctionnalité appelée RF List Mode pour réduire de façon significative le temps de test. Cette nouvelle fonctionnalité permet aux ingénieurs de télécharger des paramètres d’instruments préconfigurés pour boucler rapidement différentes configurations RF. C’est particulièrement utile au moment de tester des amplificateurs de puissance et d’autres circuits intégrés RF qui nécessitent de vérifier les performances sur plusieurs fréquences. Cette fonctionnalité supplémentaire peut aider les ingénieurs à effectuer des mesures RF multibandes de façon nettement plus rapide qu’avec des instruments traditionnels.
La PXI Semiconductor Suite inaugure aussi une solution pour importer de façon efficace des formats vectoriels numériques WGL et STIL pour rationaliser l’intégration conception/test en utilisant des produits numériques haute vitesse NI PXI. Le résultat de la collaboration entre NI et la société Test Systems Strategies, Inc. (TSSI), le nouveau logiciel TSSI TD-Scan for National Instruments permet aux ingénieurs de test de semi-conducteurs d’importer des vecteurs de simulation WGL et STIL dans des systèmes PXI, une tâche qui nécessitait auparavant le développement de logiciels personnalisés. Une version d’évaluation de l’outil logiciel WGL/STIL, qui supporte toutes les séries HSDIO NI PXI-654x, PXI-655x et PXI-656x, est disponible sur www.ni.com.Une version complète est en vente directement chez TSSI.
