Un nouveau modèle de Wireless Test System à 16 ports chez National Instruments
13/01/2016
Cette solution permet de réduire radicalement le coût des tests en production de produits sans fil en grand volume et de doubler la capacité de production avec un nombre de ports RF doublé.
Le nouveau modèle de WTS peut tester jusqu’à 16 produits en parallèle, c’est-à-dire deux fois plus que le modèle précédent, et donc de réduire encore le coût des tests. La rapidité accrue des mesures permet de réduire le coût du test en production des matériels sans fil tels que les téléphones et tablettes mobiles, ainsi que les systèmes d'infotainment. Le WTS supporte les standards sans fil, du LTE-A au 802.11ac en passant par Bluetooth LE. Ses topologies de commutation avancées sont prêtes pour le test MIMO et multisite, et son logiciel supporte les chipsets de fabricants de pointe comme Qualcomm et Broadcom.
En s’appuyant sur les performances et la souplesse de la plate-forme PXI ainsi que sur les dernières fonctionnalités des logiciels LabVIEW et TestStand, le WTS, lancé en août 2015, répond aux besoins de test en production de produits sans fil à grande échelle – tels que les téléphones portables, les systèmes d’infodivertissement ou encore les appareils de réseaux domestiques – et constitue un système adapté aux normes sans fil les plus récentes.
Le WTS multi-ports et multi-standard est conçu pour améliorer la parallélisation des tests et l’utilisation des équipements par le biais d’une technologie de mesure avancée.
« L’explosion des technologies sans fil présente un formidable potentiel pour les applications grand public, mais l’augmentation de la quantité et de la complexité des appareils sans fil actuels modifie radicalement la dynamique de leur coût de production », explique Charles Schroeder, Vice-président Communications RF et sans fil chez NI. « En doublant le nombre de ports sur le WTS, nous proposons aux fabricants d’appareils de l’Internet des Objets un outil beaucoup plus rentable et capable de réduire encore davantage le coût des tests en production de produits sans fil. »
