Nouvelle version USB du contrôleur JT 3705 Explorer

Ce nouveau contrôleur en version USB continue de concilier économies et fiabilité, répondant aux besoins des ingénieurs concepteurs, PME et sous-traitants fabriquant de faibles volumes de cartes électroniques.

JTAG Technologies, leader des solutions IEEE 1149.x pour le test et la programmation in-situ des cartes électroniques, annonce une version USB de son contrôleur réputé et économique JT 3705 Explorer. La version d’origine d’Explorer, à port parallèle, a été le premier contrôleur boundary-scan disponible dans le commerce. Au fil des années, celui-ci s’est imposé comme un outil bon marché et extrêmement fiable pour les applications boundary-scan de base.

Le JT 3705 / USB Explorer offre deux ports d’accès de test (TAP) entièrement conformes à la norme boundary-scan. Ces ports TAP peuvent être synchronisés aux fins de test. Ils conviennent en particulier pour réaliser une batterie complète de tests de cartes (IEEE 1149.1, 1149.4, 1149.6) ainsi que la programmation de composants PLD et flash en faible volume. La fréquence d’horloge de test est programmable jusqu’à 6 MHz, ce qui permet d’exécuter des tests très rapides, tandis que les tensions TAP peuvent être configurées pour un large éventail de caractéristiques d’entrée-sortie.

Alimenté via l’interface USB, le JT 3705 / USB est adapté au parc croissant d’ordinateurs portables. De plus, il est compatible avec l’ensemble des outils de développement de JTAG Technologies, tels que JTAG ProVision™ et les kits de production PSA (autonome) et PIP pour LabVIEW, LabWindows, TestStand ainsi que C/C++ et Visual Basic.